ATOMİK KUVVET MİKROSKOBU (AFM)

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AKM ya da AFM) nanometre düzeyindeki çözünürlüğü ile optik tekniklere göre 1000 kattan daha iyi çözünürlüklü bir taramalı kuvvet mikroskobudur (TKM). Atomik kuvvet mikroskobu hava ya da sıvı içerisinde görüntü alabilir. Atomik kuvvet mikroskobunun temel çalışma prensibi yüzeyin 3 boyutlu (3D) görüntüsü oluşturmak ve yüzey morfolojosini ve özelliklerini ölçmek için örneğin esnek bir manivela ve buna bağlı sivri bir uç ile taranmasıdır. Atomik kuvvet mikroskobunun önemli bir avantajı 3 boyutlu sayısal görüntüler üretmesi ve birkaç mikrondan 10 angstroma ve daha düşük çözünürlüğe kadar kullanılabilir yüzey ölçümleri sağlamasıdır. Küçük örnek boyutlarında çalışılabildiği için örnek hazırlama işlemi kolaydır ve farklı modlar kullanılabilir - ör. kontak ve kuvvet. Atomik kuvvet mikroskobu modern yüzey karakterizyonu teknikleri arasında en üstün olanıdır.

Rotalab düşük fiyatlı modelleri de olan birçok atomik kuvvet mikroskobu sistemi sunmaktadır. Uygulama alanları:

   · Yaşam Bilimleri
   · Fizik
   · Malzeme Bilimi
   · Polimer Bilimi
   · Elektrokimya
   · Nanolitografi
   · Nano-Biyoteknoloji

  • Keysight/Agilent 5500

  • Keysight/Agilent 5500ILM

  • Keysight/Agilent 7500

  • Keysight/Agilent 7500ILM

Asylum Research
  • Cypher Serisi

  • MFP-3D Serisi