YERİNDE (IN-SITU) ÖLÇÜM SİSTEMLERİ

RotaLab'ın in-situ sistemleri yarı-saydam filmleri hızlı ve güvenilir bir şekilde ölçebilir. Sistemlerimiz film kalınlığını, reflektansı, Metal Organik Kimyasal Buhar Biriktirme (MOCVD) esnasındaki birikme (depozisyon) hızını, saçtırmayı (sputtering), optik sabitleri (n ve k), ve yarı-iletkenlerin ve yalıtkan (dielektrik) katmanların homojenliğini gerçek-zamanlı olarak izler ve kontrol eder.

Rotalab tarafından sağlanan tüm masaüstü ince film kalınlık ölçüm sistemleri Windows™ ya da Mac™ OS tabanlı bilgisayarınıza USB aracılığı ile bağlanabilir ve dakikalar içerisinde kurulumu gerçekleşir.