MANUEL PROB İSTASYONLARI
Prob istasyonu, yarı iletken bir aygıtın dahili devrelerinden fiziksel olarak sinyal almak için kullanılır. Prob istasyonu, ince iğnelerin yarı iletken aygıtın yüzeyinde hassas olarak konumlandırılmasına olanak sağlayan manipülatörlere sahiptir. Aygıt elektriksel olarak uyarılırsa, sinyal mekanik prob tarafından alınır ve bir osiloskop üzerinde görüntülenir.
Prob istasyonları, fizik bilimcilerinin ve araştırmacıların, tutarlı sonuçlar üreten uygun ve tekrarlanabilir ölçümler aracılığı ile temel bilim yapmalarını sağlar. Prob istasyonları, I-V/C-V, radyo frekansı (RF), milimetre-dalga (mmW) ve THz-altı ölçümler, aygıt ve wafer karakterizasyon testleri (DWC), wafer seviye güvenilirliği, başarısızlık analizi (FA), modelleme, verim artışı, alt mikron tarama, MEMS, optoelektronik mühendislik testleri ve daha birçok uygulamayı destekleyebilen çok yönlü ve esnek araştırma platformlarıdır.
RotaLab, 50 mm ve 450 mm wafer/sübstrat arasında tarama yetenekleri ile manuel prob sistemleri sağlamaktadır. Wafer tarama sistemlerimize, araştırmalarınızda ve endüstriyel uygulamalarınızda en etkili şekilde çalışmanızı sağlamak için en son teknoloji entegre edilmiştir.
-
PS4L M-4
[100 mm tabla] -
PS4L M-6
[150 mm tabla] -
PS4L M-8
[200 mm tabla] -
PS4L M-12
[300 mm tabla]
-
LA-50 DC
[50 mm tabla] -
LA-50 HF
[50 mm tabla] -
LA-100 DC
[100 mm tabla] -
LA-100 HF
[100 mm tabla] -
LA-150 DC
[150 mm tabla] -
LA-150 HF
[150 mm tabla] -
LA-200 DC
[200 mm tabla] -
LA-200 HF
[200 mm tabla]
-
DSP M
[çift taraflı tarama]